ECCD提供了广泛的设备,以成像和局部分析固体材料在微观水平

在任何层次上,微观信息都可以与有关化学成分的特征信息相结合。即使在显微镜尺度下,利用先进的层析成像设备,材料的全三维结构的可视化也是可能的。该专业领域提供的典型参数包括:尺寸、形状、形态、分布、局部化学、局部富集、(局部)结晶度等。bob体育iso

在表面外几纳米处识别化学物质需要专用的表面分析设备。现代设备包括地表化学物质分布的成像,确定地下层化学物质剖面的方法,甚至全3d成像。

放大率覆盖了从肉眼可见到原子水平的所有范围

由于ECCD内部具有多种多样的样品制备能力,所以材料的外部和内部都适合于检测。硬材料和软材料需要不同的方法,悬浮液的制备方法也是可用的。材料的横截面可以在更大的区域上完成,以创建概览,也可以非常局部。

基于为化工行业服务的长期传统,ECCD监督技术能力的优势和局限性,以便为每个需求选择正确的方法。根据客户的需要,这些工具既可以作为独立的应用程序使用,也可以作为多种分析方法使用。

设施

显微镜

  • 光学显微镜(OM)
  • 扫描电子显微镜
  • (扫描)透射电子显微镜
  • 原子力显微镜(AFM)

局部化学分析和化学成像

  • 能量色散x射线光谱学
  • x射线光电子能谱(XPS)
  • 飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)
  • 成像红外光谱
  • 成像拉曼光谱

结晶度

  • x射线衍射(XRD)
  • 透射电子显微镜

样品制备与改性

  • 抛光
  • (超)切片法
  • 低温切削
  • 离子研磨
  • 聚焦离子束(在SEM上)
  • Ar-cluster剖析
  • 染色
  • 金属或碳沉积

应用领域

研究

  • 粒子分散在薄膜/基体的优化性能
  • 表面改性
  • 纳米粒子
  • 老化的材料
  • 反应机理
  • 逆向工程
  • 产品优化
  • 流程优化

失效分析

  • 表面缺陷,例如弹坑和粘附/分层
  • 材料的缺陷
  • 污染物(斑点,变色)
  • 机械故障(识别和寻找)

感兴趣吗?

专家能力中心Deventer位于荷兰Deventer的Nouryon研发中心的核心。

例子